Kang H., Choi S., Oh S., Hahn S., Park J., Park J., Kim G., Shin W., Jeong M., Hahn G., Afif B., Jo U., Handito R.
Ключевые слова: HTS, REBCO, tapes, measurement technique, critical caracteristics, pulsed current, degradation studies, critical current, n-value, breakdown characteristics, stabilizing layers, comparison, experimental results
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2023, v.33, N 5-3, p.5001005
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.